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yi yong x she xian shu xing zhi ( ban jia ceng ) de zheng que ce ding
Author(s): 
Pages: 15-19
Year: Issue:  4
Journal: Radiation Protection

Keyword:  吸收曲线电离室照射量率半价层X射线束几何条件x射线滤片外推方法吸收方法;
Abstract: <正> 测量X射线束的性质,可以用闪烁谱仪测得其能谱,此方法比较精确,然而需要较为复杂的设备。而吸收方法由于它的简便性和实用性近年仍得到了发展和完善。 很早以前,泰勒(Taylor)、辛金(Singen,1934年)与琼斯(Jones,1940年)、格里宁(Greening,1947、1950年)等都对吸收方法作了仔细的探讨。到了五十年代,约翰斯(Johns,1953年)和法尔(Farr,1955年)对于探测器、滤片、焦点之间距离和束的宽度对吸收测量的影响作了研究并提出可得到单值“质”的概念。六十年代特劳特(Trout,1960、1962年)等对于测量中的几何条件影响作了系统的实验研究,并指出采用直径外
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