Author(s): LI Juan, HU Xiaobo, WANG Li, LI Xianxiang, HAN Rongjiang, DONG Jie, JIANG Shouzhen, XU Xiangang, WANG Jiyang, JIANG Minhua
Pages: 415-418
Year: 2004 Issue:  z1
Journal: THE CHINESE JOURNAL OF NONFERROUS METALS
Keyword:  升华法; SiC; 微管;
Abstract: 采用高纯Si粉和C粉在适宜的温度和压力下合成了多晶SiC粉末,在此基础上采用升华法在低压高温下条件下生长了大直径6H-SiC单晶,并根据热力学理论分析了SiC的分解.结果表明,在2 300℃附近的生长温度下,Si,Si2C,SiC2是Si-C热力学平衡下的主要物种,其平衡分压比同组分的SiC物种高出3个量级,因而是升华过程中的主要物种,其质量传输过程直接决定SiC的生长.另外,采用光学显微镜观察SiC单晶中的生长缺陷,分析了缺陷成因,提出了碳的包裹体是微管缺陷的重要来源,而调制掺氮可以抑制部分微管在[0001]方向上的延伸,并在此分析基础上调整生长参数,生长出了高质量的6H-SiC单晶.