Author(s): Liu Lei
Pages: 118-120
Year: 2016 Issue:  2
Journal: Journal of Practical Medical Imaging
Keyword:  低血糖症; 脑损伤; 婴儿; 新生; 弥散磁共振成像;
Abstract: 目的 探讨新生儿低血糖脑病(HE)的扩散加权成像(DWI)影像学特点.方法 回顾性分析16例经临床确诊的新生儿低血糖患儿的临床及磁共振成像(MRI)资料,所有患儿均行常规T1WI,T2WI及DWI检查.结果 MRI显示低血糖脑病呈弥漫性脑损伤改变,主要累及顶枕叶14例,占88%(14/16);胼胝体压部12例,占75%(12/16);视辐射9例,占56%(9/16);内囊后肢8例,占50%(8/16);额叶(4/16)、颞叶(3/16)、丘脑(3/16)及脑干(1/16)等部位亦累及.病变多呈稍长T1,稍长T2信号,DWI呈明显高信号.DWI异常信号的出现早于常规MRI序列,显示病灶的范围较常规序列广泛全面,尤其对胼胝体、内囊后肢、视辐射、丘脑等病灶的显示较常规序列敏感.病变区域表观扩散系数(ADC)值减低.结论 新生儿低血糖脑病一般呈对称性分布.MRI是新生儿低血糖脑病首选影像检查方法,以DWI序列优势最突出,不仅显示典型脑损伤部位的高信号,还能显示不典型部位的高信号.