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Research on the method of TFT-LCD intelligent defect detection
Author(s): 
Pages: 52-55
Year: Issue:  9
Journal: Electronic Measurement Technology

Keyword:  TFT-LCDalgorithmGabor filteringMura;
Abstract: 随着TFT-LCD的技术飞速发展及广泛应用,人工检测良品率的方法已不能保证检测效率和检测精度.针对此问题,提出了一种基于图像处理的智能检测技术,用以满足工业自动化的需求.该技术根据TFT-LCD的矩阵式图像特征,设计系统流程应用图像校正提取图像的准确ROI区域、Gabor滤波将图像的背景纹理滤除、自适应二值化将缺陷与背景分割、连通域提取缺陷计算缺陷的属性特征并标记轮廓线等算法.实验结果表明,针对不同种类的缺陷如点、线、Mura等,调整合适的检测参数,即使在缺陷对比度不明显的环境中,此方法仍然适用.提出了一种耦合性好的检测方法,针对不同种类的缺陷采用同一种检测技术,简明、方便、准确地实现了缺陷检测,并可实际应用到工业自动化中.
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