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yong dian zi yan she fa ce ding au ag de yan she qiang du
Author(s): 
Pages: 3-7
Year: Issue:  1
Journal: Vacuum and Cryogenics

Keyword:  衍射表面分析;
Abstract: 用电子衍射法测定和补充了美国发表的 ASTM 粉末衍射强度数据.并与理论计算进行了比较.初步结论如下:由电子衍射强度是可行的.衍射强度和晶体内原子位置间的变化规律同理论计算结果基本相符.所提供的衍射强度数据,可作电子衍射物相鉴定的参考.另外.实测值和计算值的差异是由子在电子衍射时,晶体吸收较强,导致衍射角增大时,实测值略小于计算值.在电子衍射中,由于原子对电子的散射很强.晶体内产生的衍射束有较高的强度,这些衍射束可看作新的衍射源.在晶体内产生二次衍射.二次衍射可使一些弱衍射变强.一些禁止衍射也可能出现,它给电子衍射强度分析带来困难,也是电子衍射实测值和计算值差异的原因之一.
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