Author(s): WANG Yi-ling, QU Yue-hua, YANG Li-rong, WANG Tie
Pages: 161-164
Year: 2011 Issue:  S1
Journal: Physics Examination and Testing
Keyword:  X射线荧光光谱法;  硅石;  硅砖;  主次成分;  测定;  差量法;
Abstract: 利用高温熔融制备硅石、硅砖样品,应用X射线荧光光谱法测定硅石、硅砖中SiO2、A12O3、CaO、MgO、Fe2O3等主次成分的百分含量。通过国家标准物质和合成校准样品制作校准曲线,研究了熔剂的选择及其与样品的稀释比例,脱膜剂加入量对制样重现性的影响,探讨了采用差量法计算所得的结果的准确性。试验结果表明:该方法的测定值与标准认定值一致,相对标准偏差小于5%,满足了硅石中常见组分快速分析的要求。