Author(s): QU JI-FENGLIU FENGMA JIELI GUANGLI XIAO-GUANGStructure Research Laboratory, Department of Materials Science and Engineering, University of Science and Technology of China, Hefei230026
Pages: 177-181
Year: 2003 Issue:  S1
Journal: Chinese Journal of Low Temperature Physics
Keyword:  电荷有序;  超声衰减;  中国科学技术大学;  开放研究实验室;  材料科学;  结构分析;  静态电荷;  Nd掺杂;  电阻率;  工程系;
Abstract: 通过对La1 .88-yNdySr0 .1 2 CuO4系列多晶样品电阻率的测量 ,发现y=0 .3,0 .4,0 .5,0 .6样品的电阻率随着温度降低在 50～ 80K之间出现一个小于 5 %的跳跃转变 ,转变前其导电行为呈金属性 ,转变后呈半导体性 ,暗示了体系中静态电荷有序的产生 .随着Nd掺杂量y的增加 ,转变温度Tc0 升高 ,跳跃转变宽度变窄 .进一步的超声衰减测量显示 ,对应电荷有序温度Tc0 ,声速随温度降低开始出现异常硬化 ,衰减系数也出现峰值 ,随y的增加 ,衰减峰明显加强 .实验结果表明 ,Nd掺杂的增加利于钉扎体系中的动态电荷关联而形成静态的电荷有序 .这种作用可能主要是由于Nd掺杂引起体系局域结构畸变 ,低温四方相 (LTT)结构畴比例增加并得以稳定引起的 ,说明LTT相利于静态电荷有序条纹的形成 .