Author(s): XU Tong, SHAO Ming, LI Cheng, CHEN Hong-fang, XU Zi-zong
Pages: 722-724,692
Year: 2000 Issue:  6
Journal: JOURNAL OF CHINA UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
Keyword:  闪烁体; γ能谱; 卷积; 拟合;
Abstract: 针对用低能的实验室γ源激发高能物理实验中采用的高密度,低光产额的闪烁晶体来测量其光产额时闪烁体的γ能谱不易拟合的问题,论文在原有的卷积拟合算法的基础上发展了一种解析方法,该方法通过用一解析函数来近似γ能谱中的康普顿本底形状,把原来耗时的数值卷积过程简化为一个递推级数的计算.该方法在不损失拟合精度的情况下大大提高了数据处理速度.