Author(s): YANG Chenyang, MAO Shiyi, LI Shaohong
Pages: 1-4
Year: 1999 Issue:  6
Journal: ACTA ELECTRONICA SINICA
Keyword:  边扫描边跟踪(TWS); 边跟踪边搜索(TAS); 相控阵雷达; 机械扫描雷达;
Abstract: 本文从基本概念和综合性能预测的角度,研究了相控阵雷达中的两种跟踪技术--边扫描边跟踪和边跟踪边搜索技术.比较了在相控阵雷达中这二者的异同,以及在机械扫描雷达中利用边扫描边跟踪技术时的异同.提出了在相控阵雷达中计算二者综合性能指标的方法,包括精度、目标容量、资源利用率和反应时间,并对这两种技术的性能进行了比较.