Author(s): CHU Xiaorui(engineeringdepartmentofxichangcollege, XICHANG Sihcuan615013china), YAN Huailiang, ET Al.
Pages: 63-65,107
Year: 2006 Issue:  5
Journal: Journal of Sichuan University of Science and Techn
Keyword:  电缆试样;  介质损耗;  分析;
Abstract: 利用DETAL—2000测试仪对电缆试样进行介质损耗角正切的测量试验,发现电缆试样的介质损耗角正切开始为负,但随着测量电压的升高逐渐增大,在试样发生表面击穿时,变成正值。对试验结果进行分析,得到电缆试样的介质损耗值为负值的原因主要为外界电磁场对电桥的干扰和标准电容损耗较大,并提出了相应的技术处理措施。