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Spacecraft Contamination Characterization with Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
Author(s): 
Pages: 348-352
Year: Issue:  5
Journal: Vacuum Science and Technology

Keyword:  飞行时间二次离子质谱 航天器污染 地面空间环境模拟 成像分析;
Abstract: 随着对航天器长寿命和高可靠性的要求日益提高,其污染问题已引起国内外高度重视。在监测污染物总量的基础上,需要有效的分析手段确定污染物的化学成分才能判断污染源。用当代飞行时间二次离子质谱仪器(TOF-SIMS)对我国地面空间环境模拟污染的典型样品进行了探索性实验,结果表明:与国内外现有的检测手段相比,当代TOF-SIMS最适于样品量有限的航天污染物的成份分析;具有高质量分辨的TOF-SIMS,对航天污染物包含的所有元素、同位素和化合物具有指纹鉴别能力;成像分析可解析出污染物形成历史的一些相关信息。TOF-SIMS有望在航天污染系统工程中发展成为一种独具特色的航天污染检测新技术。
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