The server is under maintenance between 08:00 to 12:00 (GMT+08:00), and please visit
later.
We apologize for any inconvenience caused
wei dian zi xue ji cheng dian lu
Pages: 52-
54
Year: 2000
Issue:
1
Journal: Electrical and Electronic Engineering - Wireless and Mobile Communication
Abstract: TN4 00010535CLA加法器混合式BIST方案/曾平英,毛志刚,叶以正(哈尔滨工业大学)11电子学报,一1 999,27(5)一108一110文中以先行进位加法器为例,将确定性测试方法与伪随机测试方法相结合,提出了实现内建自测试电路中测试生成器的、在测试时间和测试电路硬件开销之间取得折衷的几种方案.最后,比较并分析了所得结果.图3表2参6(金)成电路得以迅速发展,微电子技术将与其它技术结合形成一系列新的增长点,微光机电系统(M OMEs)、DNA芯片等将得到突飞猛进的发展,1 999年的微电子技术将在超微细光刻技术、铜互连及低k互连绝缘介质、高k栅绝缘介质、5 01技术、Gesi和Ga
Citations
No citation information